一种高精度元件测试装置的制作方法
1.本实用新型涉及高精度元件测试装置的技术领域,特别涉及一种高精度元件测试装置。
背景技术：
2.现有的测试设备大多都是使用定位销，来实现对sip产品的精确定位。未来的设备都时在向小型化、多元化发展，对于这类没有定位孔且精度要求很高的产品测试，如何高精度定位是影响测试准度的关键。
3.公开号为cn113917316a的一种高精度芯片测试治具，其公开了一种使用浮动式设计对产品下压接触测试，同时采用两组对称布置的针脚测试针与单只芯片引脚接触结构，提高接触稳定性使实验更为高效可靠，但该发明对产品定位采用定位部和定位销进行定位，定位结构复杂不利于产线快速测试，需要一种能实现快速落位的测试装置。
技术实现要素：
4.本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种结构简洁，各部件之间安装定位精准且实现产品快速精准落位的一种高精度元件测试装置。
5.本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括上盖模组、针块模组以及载板，所述上盖模组与所述针块模组导向连接并与产品顶压配合，所述载板设置在所述针块模组上，所述载板通过若干定位件与所述针块模组固定连接，所述载板设置有与产品相配合的让位槽，所述让位槽的中部设置有支撑块，所述支撑块与产品支承配合，所述载板的前段设置有若干针孔。
6.进一步，所述载板的让位槽四边设置有倾角，所述倾角的角度在60度至80度之间。
7.进一步，所述载板设置有若干压槽，若干所述压槽对应与若干所述定位件顶压配合。
8.进一步，所述上盖模组包括上盖板、两组卡扣块、浮动垫板、仿形压块以及压块导向块，两组所述卡扣块铰接于所述上盖板的两侧，两组所述卡扣块的一端均与所述针块模组相连接，所述浮动垫板与所述上盖板浮动连接，所述仿形压块与所述浮动垫板浮动配合，所述仿形压块远离所述浮动垫板的一端与产品紧密贴合，所述压块导向块设置有若干第一导向柱并与所述上盖板浮动连接，所述浮动垫板上还设置有两组第二导向柱，所述第二导向柱与所述针块模组导向配合。
9.进一步，所述卡扣块靠近所述针块模组的一端设有勾块，所述卡扣块的另一端设置有弧形槽。
10.进一步，所述针块模组包括底板、针座、若干探针、若干导套以及定位板，所述底板的两侧设置有与所述卡扣块相配合的卡块，所述针座设置在所述底板上，若干所述探针设置在所述针座上并对应穿过若干所述针孔与产品导通配合，若干导套均与所述载板固定连接，若干导套对应与若干第二导向柱导向配合，所述针座上设置有与所述定位板相配合的
定位槽，所述定位板设置有若干导柱并与所述载板导向配合。
11.本实用新型的有益效果是：由于本实用新型的载板采用支撑块和让位槽结构对产品进行定位，产品放置于让位槽内，支撑块与产品底面接触保证其表面平整，重复定位提高产品定位精度，同时降低加工难度；在让位槽中使用倾角设计，产品放入时沿倾角滑落至让位槽内产品放入时提高容错率，进而提升产品测试效率；上盖模组采用浮动式仿形压块和载板，通过凸台和槽孔定位结构，多重定位结构，确保产品定位精准；多重浮动结构设计，上盖模组下压过程中，对产品形成弹性缓冲，施加紧压力同时避免对产品过度顶压，损坏产品表面或内部结构。
附图说明
12.图1是本实用新型的结构示意图；
13.图2是本实用新型上盖模组的爆炸图；
14.图3是本实用新型针块模组和载板的爆炸图。
具体实施方式
15.如图1至图3所示，在本实施例中，本实用新型包括上盖模组1、针块模组2以及载板3，所述上盖模组1与所述针块模组2导向连接并与产品顶压配合，所述载板3设置在所述针块模组2上，所述载板3通过若干定位件4与所述针块模组2固定连接，所述载板3设置有与产品相配合的让位槽5，所述让位槽5的中部设置有支撑块6，所述支撑块6与产品支承配合，所述载板3的前段设置有若干针孔7，所述载板3中部设置有开槽，所述开槽便于产品放置后从侧边取料，所述载板3底部设置有若干载板3弹簧，落位后探针23与产品之间保持一定距离。载板3采用支撑块6和让位槽5结构对产品进行定位，产品放置于让位槽5内，支撑块6与产品底面接触保证其表面平整，重复定位提高产品定位精度，同时降低加工难度。
16.在本实施例中，所述载板3的让位槽5四边设置有倾角，所述倾角的角度在60度至80度之间。让位槽5采用倾角设计，产品放入时沿倾角滑落至让位槽5内产品放入时提高容错率，进而提升产品测试效率。
17.在本实施例中，所述载板3设置有若干压槽，若干所述压槽对应与若干所述定位件4顶压配合，所述压槽为圆弧结构配合圆形顶压件定位紧压。
18.在本实施例中，所述上盖模组1包括上盖板11、两组卡扣块12、浮动垫板13、仿形压块14以及压块导向块15，两组所述卡扣块12铰接于所述上盖板11的两侧，两组所述卡扣块12的一端均与所述针块模组2相连接，所述浮动垫板13与所述上盖板11浮动连接，所述仿形压块14与所述浮动垫板13浮动配合，所述仿形压块14远离所述浮动垫板13的一端与产品紧密贴合，所述压块导向块15设置有若干第一导向柱16并与所述上盖板11浮动连接，所述浮动垫板13上还设置有两组第二导向柱17，所述第二导向柱17与所述针块模组2导向配合，所述上盖板11还设置有铰接轴以及回弹件，所述铰接轴与所述卡扣块12相连接，所述回弹块设置在所述上盖板11与所述卡扣块12之间，所述浮动垫板13与所述上盖板11之间设置有第一弹簧，所述方形压块与所述浮动垫板13之间设置有若干第二弹簧浮动，所述浮动垫板13上还设置有至少两组弹性销，若干所述弹性销均与所述压块导向块15浮动连接，所述弹性销为所述弹簧和导向销组成，导向销与所述压块导向板顶压配合，所述弹簧与所述浮动垫
板13相连接。上盖模组1采用浮动式仿形压块14和载板3，通过凸台和槽孔定位结构，多重定位结构，确保产品定位精准；多重浮动结构设计，上盖模组1下压过程中，对产品形成弹性缓冲，施加紧压力同时避免对产品过度顶压，损坏产品表面或内部结构。
19.在本实施例中，所述卡扣块12靠近所述针块模组2的一端设有勾块，所述卡扣块12的另一端设置有弧形槽，勾块设置有圆弧面与勾块平面，上盖模组1靠近针块模组2是勾块圆弧面与针块模组2相对滑动，使卡扣块12绕铰接轴转动张开，落位后卡扣块12回弹，勾块平面与针块模组2顶压锁紧。
20.在本实施例中，所述针块模组2包括底板21、针座22、若干探针23、若干导套24以及定位板25，所述底板21的两侧设置有与所述卡扣块12相配合的卡块26，所述针座22设置在所述底板21上，若干所述探针23设置在所述针座22上并对应穿过若干所述针孔7与产品导通配合，若干导套24均与所述载板3固定连接，若干导套24对应与若干第二导向柱17导向配合，所述针座22上设置有与所述定位板25相配合的定位槽，所述定位板25设置有若干导柱27并与所述载板3导向配合，所述针座22上设置有与若干探针23相配合的针块，所述针块为l形结构，所述底板21为方形结构。针块模组2采用针块和槽孔双重定位结构，载板3定位精确高效，载板3落位精准。
21.本实用新型的工作原理：
22.将产品放入载板3，此时载板3弹簧支撑着载板3，探针23没有接触产品，然后扣上上盖模组1，在第二导向柱17与导套24定位导向下，弹性销弹簧力大于载板3弹簧顶升力，可以保证载板3能够完全贴合针块，载板3在针座22的定位板25导向定位向下运动， 探针23与产品完全接触。与此同时，仿形压块14在载板3让位槽5的导向定位向下运动，因为仿形压块14弹簧力大于探针23弹力，可以保证仿形压块14能够完全贴合产品。整个过程实现产品的高精度定位的目的。
23.虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本实用新型含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。
技术特征：
1.一种高精度元件测试装置，其特征在于：它包括上盖模组（1）、针块模组（2）以及载板（3），所述上盖模组（1）与所述针块模组（2）导向连接并与产品顶压配合，所述载板（3）设置在所述针块模组（2）上，所述载板（3）通过若干定位件（4）与所述针块模组（2）固定连接，所述载板（3）设置有与产品相配合的让位槽（5），所述让位槽（5）的中部设置有支撑块（6），所述支撑块（6）与产品支承配合，所述载板（3）的前段设置有若干针孔（7）。2.根据权利要求1所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述载板（3）的让位槽（5）四边设置有倾角，所述倾角的角度在60度至80度之间。3.根据权利要求1所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述载板（3）设置有若干压槽，若干所述压槽对应与若干所述定位件（4）顶压配合。4.根据权利要求1所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述上盖模组（1）包括上盖板（11）、两组卡扣块（12）、浮动垫板（13）、仿形压块（14）以及压块导向块（15），两组所述卡扣块（12）铰接于所述上盖板（11）的两侧，两组所述卡扣块（12）的一端均与所述针块模组（2）相连接，所述浮动垫板（13）与所述上盖板（11）浮动连接，所述仿形压块（14）与所述浮动垫板（13）浮动配合，所述仿形压块（14）远离所述浮动垫板（13）的一端与产品紧密贴合，所述压块导向块（15）设置有若干第一导向柱（16）并与所述上盖板（11）浮动连接，所述浮动垫板（13）上还设置有两组第二导向柱（17），所述第二导向柱（17）与所述针块模组（2）导向配合。5.根据权利要求4所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述卡扣块（12）靠近所述针块模组（2）的一端设有勾块，所述卡扣块（12）的另一端设置有弧形槽。6.根据权利要求4所述的一种高精度元件测试装置，其特征在于：所述针块模组（2）包括底板（21）、针座（22）、若干探针（23）、若干导套（24）以及定位板（25），所述底板（21）的两侧设置有与所述卡扣块（12）相配合的卡块（26），所述针座（22）设置在所述底板（21）上，若干所述探针（23）设置在所述针座（22）上并对应穿过若干所述针孔（7）与产品导通配合，若干导套（24）均与所述载板（3）固定连接，若干导套（24）对应与若干第二导向柱（17）导向配合，所述针座（22）上设置有与所述定位板（25）相配合的定位槽，所述定位板（25）设置有若干导柱（27）并与所述载板（3）导向配合。
技术总结
本实用新型旨在提供一种结构简洁，各部件之间安装定位精准且实现产品快速精准落位的一种高精度元件测试装置。本实用新型包括上盖模组、针块模组以及载板，所述上盖模组与所述针块模组导向连接并与产品顶压配合，所述载板设置在所述针块模组上，所述载板通过若干定位件与所述针块模组固定连接，所述载板设置有与产品相配合的让位槽，所述让位槽的中部设置有支撑块，所述支撑块与产品支承配合，所述载板的前段设置有若干针孔。本实用新型应用于高精度元件测试装置的技术领域。度元件测试装置的技术领域。度元件测试装置的技术领域。
